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探索变换器的外推

长度外推近年来受到广泛关注，因为它使Transformer能够被测试在训练时未使用的更长序列上。先前的研究表明，通过精心设计的相对位置编码（RPEs）可以实现这一特性。尽管这些方法

作者:Zhen Qin, Yiran Zhong, Hui Deng · 语言:en

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简介

长度外推近年来受到广泛关注，因为它使Transformer能够被测试在训练时未使用的更长序列上。先前的研究表明，通过精心设计的相对位置编码（RPEs）可以实现这一特性。尽管这些方法

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