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Transformer质量的线性时间测量

我们重新审视了Transformer的设计选择，并提出了应对长序列处理缺陷的方法。首先，我们提出了一种名为门控注意力单元的简单层，该层允许使用较弱的单头注意力，且质量损失极小。然后，我们提出了一种线性近似

作者:Weizhe Hua, Zihang Dai, Hanxiao Liu · 语言:en

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简介

我们重新审视了Transformer的设计选择，并提出了应对长序列处理缺陷的方法。首先，我们提出了一种名为门控注意力单元的简单层，该层允许使用较弱的单头注意力，且质量损失极小。然后，我们提出了一种线性近似

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